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三(san)(san)(san)維(wei)云(yun)紋干(gan)涉(she)儀(yi)(yi)全套三(san)(san)(san)維(wei)云(yun)紋干(gan)涉(she)儀(yi)(yi)配機械(xie)加載架產品簡介：產品名稱：三(san)(san)(san)維(wei)云(yun)紋干(gan)涉(she)儀(yi)(yi)應(ying)用(yong)：該設(she)備用(yong)于(yu)測量試(shi)(shi)件在機械(xie)或(huo)熱載荷(he)作用(yong)下的三(san)(san)(san)維(wei)熱機械(xie)變形場（面內(nei)的U,V場和離(li)面的W場）。在電子(zi)封裝領(ling)域，該設(she)備是重(zhong)要的失效(xiao)分析手段。主(zhu)要技術參數：（1）試(shi)(shi)件尺寸（測試(shi)(shi)范圍）：φ3.5mm至φ35mm，10X變焦(jiao)鏡頭記錄條紋圖像；（2）原始測試(shi)(shi)分辨率：417nm(U、V場)，266nm（W場），借(jie)助于(yu)相移技術可提高100倍。（3）微型加熱爐：內(nei)腔尺寸60mm見(jian)方，溫(wen)度(du)范圍室溫(wen)-300C，升溫(wen)速度(du)...

Ortoalresa實驗室離心(xin)機，來自斗牛士的(de)國度-西班牙Ortoalresawasbornin1.949ascentrifugesmanufacturer.70yearslater,isaproudforusbeareferenceinEuropeanmanufacturersscene,sharingexperienceswithourcustomersworldwide.Hardwork,talent,commitmentａndenthusiasmhavealwaysb...

實驗室離(li)(li)(li)心(xin)機(ji)的(de)結構組成通(tong)(tong)用(yong)實驗室離(li)(li)(li)心(xin)機(ji)在(zai)(zai)(zai)構造上與高速離(li)(li)(li)心(xin)機(ji)基(ji)本相(xiang)同，主要包括：驅動、各(ge)式轉(zhuan)頭、溫(wen)(wen)度(du)控制（低溫(wen)(wen)機(ji)型）、整機(ji)控制4個主要部(bu)分。圖1為安(an)賽(sai)斯公(gong)司(si)的(de)Ortoalresa離(li)(li)(li)心(xin)機(ji)實驗室離(li)(li)(li)心(xin)機(ji)驅動系統采用(yong)無碳刷變頻(pin)電(dian)機(ji)取代(dai)了直流串激(ji)電(dian)機(ji)是離(li)(li)(li)心(xin)技術的(de)革命，隨之而來(lai)的(de)優點體(ti)現在(zai)(zai)(zai)：（1）在(zai)(zai)(zai)不同轉(zhuan)速都能輸出最大(da)扭矩，為開發一機(ji)多功(gong)能型的(de)通(tong)(tong)用(yong)離(li)(li)(li)心(xin)機(ji)提供了重要前提；（2）維(wei)(wei)護(hu)簡便，直流串激(ji)電(dian)機(ji)需定期更換碳刷（一般(ban)在(zai)(zai)(zai)100～1000h）給使(shi)(shi)用(yong)者(zhe)帶來(lai)諸多不便，而使(shi)(shi)用(yong)變頻(pin)電(dian)機(ji)驅動部(bu)分維(wei)(wei)護(hu)主要...

超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)掃描(miao)顯(xian)微鏡換能器(qi)與分辨率(lv)(lv)(lv)和穿透(tou)深度(du)的關系(xi)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)掃描(miao)顯(xian)微鏡對被(bei)測(ce)器(qi)件是(shi)(shi)有一(yi)定限(xian)制的，因為它(ta)的工(gong)作頻(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)一(yi)般在5MHz~400MHz之間，安(an)賽斯(si)（中國）有限(xian)公司引進德國的超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)掃描(miao)顯(xian)微鏡，其工(gong)作頻(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)可(ke)達550M。所以(yi)它(ta)在不同材料中，穿透(tou)深度(du)是(shi)(shi)不同。一(yi)般有這樣的規(gui)律：頻(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)越高(gao)的超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)，穿透(tou)性(xing)越差，但是(shi)(shi)分辨率(lv)(lv)(lv)高(gao)；頻(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)低的超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)，穿透(tou)性(xing)好，但是(shi)(shi)分辨率(lv)(lv)(lv)有限(xian)！穿透(tou)深度(du)（與材料本身有關*）:穿透(tou)深度(du)取決(jue)于被(bei)測(ce)物的彈(dan)性(xing)參數(shu)、信噪比及超(chao)聲(sheng)(sheng)掃描(miao)顯(xian)微鏡系(xi)統的工(gong)作頻(pin)(pin)(pin)(pin)率(lv)(lv)(lv)。被(bei)測(ce)物與耦合介質之間較大(da)的聲(sheng)(sheng)...

用聲(sheng)發射(she)和超(chao)聲(sheng)-聲(sheng)發射(she)監控(kong)老(lao)化結(jie)構(gou)(gou)摘要：在(zai)現(xian)在(zai)的(de)經濟觀點中(zhong)，結(jie)構(gou)(gou)必(bi)須保持工作的(de)時(shi)間(jian)要比初始預期的(de)時(shi)間(jian)要長(chang)的(de)多。這(zhe)些結(jie)構(gou)(gou)的(de)老(lao)化效(xiao)應變得很(hen)顯著，并(bing)在(zai)確定關于這(zhe)些結(jie)構(gou)(gou)使用、維護和退(tui)役方案時(shi)必(bi)須考慮(lv)老(lao)化效(xiao)應。用于監控(kong)結(jie)構(gou)(gou)狀(zhuang)況的(de)無(wu)損檢驗技(ji)術(shu)(shu)的(de)發展是(shi)非(fei)常(chang)活躍的(de)，且(qie)這(zhe)些發展主要集中(zhong)于已存在(zai)結(jie)構(gou)(gou)現(xian)有壽命的(de)延長(chang)和維護費用的(de)降低。一種快速(su)、準確和成本較低的(de)結(jie)構(gou)(gou)監控(kong)方法是(shi)聲(sheng)發射(she)(AE)和超(chao)聲(sheng)-聲(sheng)發射(she)(AU)，這(zhe)種方法已被證(zheng)明非(fei)常(chang)可(ke)(ke)靠，并(bing)能檢測"局(ju)部(bu)"和"全局(ju)"。AE/AU技(ji)術(shu)(shu)可(ke)(ke)以在(zai)可(ke)(ke)能的(de)災難(nan)性(xing)故障...

勻(yun)(yun)膠(jiao)(jiao)(jiao)機(ji)旋(xuan)(xuan)(xuan)涂(tu)(tu)儀(yi)設備有什么用途？勻(yun)(yun)膠(jiao)(jiao)(jiao)機(ji)/旋(xuan)(xuan)(xuan)涂(tu)(tu)儀(yi)有很多種稱謂，英(ying)文叫SpinCoater或(huo)者SpinProcessor，又稱甩膠(jiao)(jiao)(jiao)機(ji)、勻(yun)(yun)膠(jiao)(jiao)(jiao)臺、旋(xuan)(xuan)(xuan)轉(zhuan)涂(tu)(tu)膠(jiao)(jiao)(jiao)機(ji)、旋(xuan)(xuan)(xuan)轉(zhuan)涂(tu)(tu)膜(mo)機(ji)、旋(xuan)(xuan)(xuan)轉(zhuan)涂(tu)(tu)層機(ji)、旋(xuan)(xuan)(xuan)轉(zhuan)涂(tu)(tu)布(bu)機(ji)、旋(xuan)(xuan)(xuan)轉(zhuan)薄膜(mo)機(ji)、旋(xuan)(xuan)(xuan)轉(zhuan)涂(tu)(tu)覆(fu)儀(yi)、旋(xuan)(xuan)(xuan)轉(zhuan)涂(tu)(tu)膜(mo)儀(yi)、勻(yun)(yun)膜(mo)機(ji)，總的(de)來說，他們原理(li)都是一(yi)樣的(de)，既在(zai)高速(su)(su)旋(xuan)(xuan)(xuan)轉(zhuan)的(de)基片上(shang)，滴(di)注(zhu)各類膠(jiao)(jiao)(jiao)液(ye)，利用離心力使(shi)滴(di)在(zai)基片上(shang)的(de)膠(jiao)(jiao)(jiao)液(ye)均勻(yun)(yun)地涂(tu)(tu)覆(fu)在(zai)基片上(shang)，厚(hou)度(du)視不(bu)(bu)同膠(jiao)(jiao)(jiao)液(ye)和基片間的(de)粘(zhan)滯系(xi)數而不(bu)(bu)同，也和旋(xuan)(xuan)(xuan)轉(zhuan)速(su)(su)度(du)及時間有關。勻(yun)(yun)膠(jiao)(jiao)(jiao)機(ji)盡管是一(yi)款原理(li)比(bi)較簡單的(de)實驗(yan)室小(xiao)型儀(yi)器，但影響勻(yun)(yun)膠(jiao)(jiao)(jiao)效果(guo)的(de)卻有勻(yun)(yun)膠(jiao)(jiao)(jiao)速(su)(su)度(du)（...

什么是(shi)(shi)水(shui)浸(jin)超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)C掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)系統？水(shui)浸(jin)超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)C掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)系統是(shi)(shi)超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)檢(jian)測(ce)中的(de)(de)一種，以水(shui)為(wei)介質來進行超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)，因此也(ye)叫做水(shui)浸(jin)超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)檢(jian)測(ce)、超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)水(shui)浸(jin)檢(jian)測(ce)；根據(ju)掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)介質不同，還(huan)有噴(pen)水(shui)式超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)C掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)，空氣耦合超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)C掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)系統等。全(quan)自動超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)C掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)設備(bei)根據(ju)檢(jian)測(ce)設備(bei)呈(cheng)(cheng)現的(de)(de)結果不同，又(you)分為(wei)A掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)、B掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)、C掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)，其中A掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)是(shi)(shi)呈(cheng)(cheng)現一個點的(de)(de)波(bo)形圖(tu)像，在這個監測(ce)點，超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)從入(ru)射到(dao)返回這個過(guo)程(cheng)，超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)的(de)(de)傳(chuan)播過(guo)程(cheng)及變(bian)化。B掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)反應的(de)(de)是(shi)(shi)樣品橫(heng)斷(duan)面(mian)(mian)上(shang)超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)的(de)(de)傳(chuan)播情(qing)況；而C掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)是(shi)(shi)整(zheng)個掃(sao)(sao)(sao)描(miao)(miao)平(ping)面(mian)(mian)上(shang)超(chao)(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)的(de)(de)傳(chuan)播和變(bian)化情(qing)況，通過(guo)閘門設置，獲取特定界...

無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)就是利用(yong)聲(sheng)(sheng)、光(guang)、磁和電(dian)等(deng)特性(xing)，在不(bu)損害或不(bu)影響被檢(jian)(jian)對象(xiang)(xiang)使用(yong)性(xing)能的(de)前提(ti)下，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)被檢(jian)(jian)對象(xiang)(xiang)中是否存(cun)在缺陷或不(bu)均勻性(xing)，給出缺陷的(de)大(da)小、位置、性(xing)質和數(shu)量等(deng)信息，進而判定被檢(jian)(jian)對象(xiang)(xiang)所(suo)處技(ji)術狀(zhuang)態（如合格與否、剩余壽命等(deng)）的(de)所(suo)有技(ji)術手段的(de)總(zong)稱。常用(yong)的(de)無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)方法(fa)：射線照相檢(jian)(jian)驗(RT)、超聲(sheng)(sheng)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(UT)、磁粉(fen)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(MT)和液體滲透檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(PT)四(si)種。其他(ta)無損檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)方法(fa)：渦流(liu)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ET)、聲(sheng)(sheng)發射檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)（AT）、熱像/紅外（TIR）、泄漏試驗（LT）、交流(liu)場測(ce)(ce)(ce)(ce)量技(ji)術（ACFMT）、漏磁檢(jian)(jian)驗（MFL...