超聲波掃(sao)描顯微鏡對(dui)被測器件是有一定(ding)限(xian)制的,因(yin)為它(ta)的工作(zuo)頻率一般在(zai)5MHz~400MHz之(zhi)間(jian),安(an)賽斯(中國)有(you)限公(gong)司(si)引(yin)進德(de)國的超聲波掃描顯微鏡,其工作頻率可達550M。所以它在不同材料中,穿透深度是不同。一般有這樣的規律:頻率越高的超聲波,穿透性越差,但是分辨率高;頻率低的超聲波,穿透性好,但是分辨率有限! 穿透深度(du)(與(yu)材料本身有關*): 穿透深(shen)度取決(jue)于被測(ce)物的彈性參數、信噪(zao)比及超聲掃(sao)描顯微鏡系統的工作頻率(lv)。被測(ce)物與耦(ou)合介質(zhi)之間較(jiao)大的聲失配會(hui)降(jiang)低穿透深(shen)度,但另一方面,高信噪(zao)比可以提 高穿(chuan)(chuan)透(tou)深(shen)度。在高聲阻抗(kang)的固(gu)體(ti)中超聲波的穿(chuan)(chuan)透(tou)深(shen)度與超聲波的頻率成反比。對(dui)于低聲阻抗(kang)的固(gu)體(ti),橫(heng)波和縱波均可以(yi)用于內部成像,因此在這種情(qing)況下穿(chuan)(chuan)透(tou)深(shen)度不(bu) 受頻(pin)率的限制。 分辨率(lv):取(qu)決于樣(yang)品(pin)和換(huan)能器的(de)狀況(kuang),一(yi)般情況(kuang)下可(ke)達(da)到半波長(chang)(λ/2)。 頻率(MHz) | 穿透深度*(mm) | 理論分辨率(μm) | 焦距(mm) | 5 | 15,0 | 300 | 19 | 10 | 10,0 | 150 | 15 | 15 | 5,1 | 100 | 19 | 20 | 4,1 | 75 | 15 | 25 | 4,1 | 60 | 15 | 30 | 3,4 | 50 | 12 | 40 | 5,4 | 38 | 20 | 75 | 3,4 | 20 | 12 | 80 | 2,2 | 19 | 8 | 100 | 0,4 | 15 | 1 | 110 | 2,2 | 14 | 8 | 120 | 2,2 | 12 | 8 |
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