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三維(wei)云紋干涉儀：該(gai)設備用于測量試件(jian)在機(ji)械或熱載荷作(zuo)用下的三維(wei)熱機(ji)械變(bian)形場（面(mian)內的U,V場和離面(mian)的W場）。在電子封裝(zhuang)領域，該(gai)設備是(shi)重要的失效分(fen)析手段。

臥式光(guang)彈(dan)系數測(ce)試儀(ANA6000P-H)是應(ying)用偏振(zhen)光(guang)干涉原(yuan)理對應(ying)力(li)(li)作用下能產生人工(gong)雙折射(she)材料(liao)做成的力(li)(li)學構件(jian)模型(xing)進行實(shi)驗應(ying)力(li)(li)測(ce)試的儀器，簡稱光(guang)彈(dan)儀。應(ying)用它可以通過模型(xing)在實(shi)驗室(shi)內進行大型(xing)建筑構件(jian)、水壩壩體、重型(xing)機械部(bu)件(jian)的應(ying)力(li)(li)和應(ying)力(li)(li)分(fen)布(bu)的測(ce)試，并(bing)可以在模型(xing)上直接(jie)看到被測(ce)件(jian)的全(quan)部(bu)應(ying)力(li)(li)分(fen)布(bu)和應(ying)力(li)(li)集中情(qing)況。

立式光(guang)彈(dan)測試(shi)儀(yi)：光(guang)彈(dan)系數測試(shi)儀(yi)(ANA6000P-V)是應(ying)(ying)用(yong)偏振光(guang)干(gan)涉原理對應(ying)(ying)力(li)作(zuo)用(yong)下能產(chan)生人工雙折射材(cai)料做成的力(li)學構件(jian)模型進行實驗應(ying)(ying)力(li)測試(shi)的儀(yi)器(qi)(qi)，簡稱光(guang)彈(dan)儀(yi)。應(ying)(ying)用(yong)它可以測試(shi) SiC晶(jing)圓、手機膜(mo)、顯示屏、石英玻(bo)璃(li)等器(qi)(qi)件(jian)內部的應(ying)(ying)力(li)雙折射/殘余(yu)應(ying)(ying)力(li)，以圖像(xiang)形式直觀觀察被(bei)測件(jian)的應(ying)(ying)力(li)分布和應(ying)(ying)力(li)集中情(qing)況。