簡(jian)要描述:臥式光(guang)彈(dan)(dan)系(xi)數測試儀(ANA6000P-H)是應(ying)用(yong)偏振光(guang)干涉原理對應(ying)力(li)作(zuo)用(yong)下能產生人工(gong)雙折射材(cai)料做成的(de)力(li)學構(gou)件(jian)模(mo)型(xing)進行(xing)實驗應(ying)力(li)測試的(de)儀器,簡稱光(guang)彈(dan)(dan)儀。應(ying)用(yong)它可以(yi)通過(guo)模(mo)型(xing)在實驗室內進行(xing)大型(xing)建(jian)筑構(gou)件(jian)、水壩壩體、重型(xing)機(ji)械部件(jian)的(de)應(ying)力(li)和(he)應(ying)力(li)分(fen)布的(de)測試,并可以(yi)在模(mo)型(xing)上直接(jie)看到被(bei)測件(jian)的(de)全部應(ying)力(li)分(fen)布和(he)應(ying)力(li)集中(zhong)情況。
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臥式光彈系數測試儀
型號:ANA6000P-H
(圖示帶鈉光(guang)(guang)燈(deng)光(guang)(guang)源和加載架的光(guang)(guang)彈儀)
產品簡(jian)介(jie):
產品名稱(cheng):臥式光彈系數測試儀
型 號:ANA6000P-H
應(ying) 用:高精度測量光(guang)彈材料(liao)(如各種玻璃)的光(guang)彈系(xi)數(shu),以圖像形式直觀(guan)觀(guan)察被測件的應力(li)分(fen)布和應力(li)集中(zhong)情況。
安賽(sai)斯(si)光彈系數測試儀(ANA6000P-H)是(shi)應用偏振光(guang)干(gan)涉(she)原(yuan)理對應力(li)作用下能產生(sheng)人工雙折射材(cai)料做成的(de)(de)(de)力(li)學構件模(mo)型(xing)進行實驗(yan)(yan)應力(li)測試(shi)(shi)的(de)(de)(de)儀器(qi),簡稱光(guang)彈(dan)儀。應用它可(ke)以(yi)通過模(mo)型(xing)在實驗(yan)(yan)室內進行大型(xing)建筑(zhu)構件、水(shui)壩壩體、重型(xing)機械部件的(de)(de)(de)應力(li)和(he)(he)應力(li)分布(bu)的(de)(de)(de)測試(shi)(shi),并可(ke)以(yi)在模(mo)型(xing)上直接看(kan)到被測件的(de)(de)(de)全部應力(li)分布(bu)和(he)(he)應力(li)集中(zhong)情況。
主要技術參數:
l 測試面(mian)積(即光源(yuan)尺寸(cun)):j70- j180mm;
l 應力雙(shuang)折射量程:
n 基本型: 1/4波長(以紅(hong)光為例:157.5nm);
n 增強型(xing):2296nm (通過藍綠光雙波長法測試(shi)和解包裹處理);
l 測(ce)試(shi)分辨率(lv)與精度:
n 應力雙折射測試分辨(bian)率(lv):0.05nm, 精度:0.5nm;
n 光(guang)彈系(xi)數(shu)測試分辨率:0.1 nm/cm/MPa,, 精(jing)度:0.2 nm/cm/MPa。
產品(pin)特色:
本產品與立式光彈儀具有相同工作原理,但為(wei)了提高測試精(jing)度,采取了以下措(cuo)施:
(1) 采用了高質量的偏(pian)(pian)振光學(xue)器件(jian),以保證(zheng)光的偏(pian)(pian)振特性和質量;
(2) 采(cai)用了單色性更好的光(guang)源(yuan),如鈉光(guang)燈和(he)激(ji)光(guang);
(3) 強化了光束的準直(zhi)性(平行性)傳播(bo),以(yi)減少光在傳播(bo)過程(cheng)與理想偏(pian)振狀(zhuang)態(tai)的偏(pian)離;
(4) 采用了遠心成像透(tou)鏡(jing),以提高成像質量(liang)。
(5) 以(yi)增量法(fa)進行光彈系數計算;
(6) 數據(ju)處理全(quan)自動(dong)化,并自動(dong)生產測試報(bao)告。
光(guang)彈儀工作原理
設(she):圓盤(pan)試件(jian)(直徑D, 厚度d)受對徑壓縮載荷 F 的作用,試件中心點O 的主應力分(fen)別是:
(1)
根(gen)據應力-光學定律,應力雙折射材料(liao)的(de)主應力差與相位差(?)的(de)關(guan)系如(ru)下:
(2)
其(qi)中(zhong)C 為(wei)待求的光彈(dan)系數,λ 為測試光的波長。
將(jiang)(1)(2)關聯起來(lai),有:
(3)
通過光彈實驗(yan)確定圓(yuan)形試件(jian)中(zhong)心點的位相(xiang)差(cha)?,即可得到光彈系數。
光彈儀光路原理圖
實驗示(shi)意及(ji)應用(yong)范圍(wei):
利用應力雙折射性質,在工程上(shang)可以(yi)制成各種(zhong)機械零件(jian)的透明塑料模型,然后模擬零件(jian)的受力情況,觀察、分析偏振(zhen)光干(gan)涉(she)的色(se)彩和(he)條紋(wen)分布,從而(er)判(pan)斷零件(jian)內(nei)部的應力分布。
應力雙折射信(xin)息
圓(yuan)盤徑向受(shou)壓實驗:
U型(xing)塊壓彎組合實驗:
光彈性方法直觀(guan),能(neng)直(zhi)接(jie)顯示應(ying)(ying)力集(ji)中區域,并準(zhun)確給出應(ying)(ying)力集(ji)中部(bu)分的(de)量值;它不但可以得到便捷應(ying)(ying)力而且能(neng)夠求的(de)結構的(de)內(nei)部(bu)應(ying)(ying)力。特(te)別是這一方法不受形狀(zhuang)和(he)載荷的(de)限制,可以對工程復雜(za)結構進行應(ying)(ying)力分析(xi)。
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