產(chan)品簡介：

產品名稱：立式光彈測試儀

型   號：ANA6000P-V

應   用：測(ce)試 SiC晶(jing)圓、手機膜、顯示屏、石英(ying)玻璃等器(qi)件(jian)內(nei)部的(de)應力(li)雙折(zhe)射/殘余應力，以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。

安賽斯立式光彈測試儀：光彈系數測試儀(ANA6000P-V)是(shi)應(ying)用(yong)偏振(zhen)光(guang)干涉(she)原理(li)對應(ying)力作(zuo)用(yong)下能產生人工雙(shuang)折射材料做成(cheng)的力學(xue)構(gou)件模(mo)型進行實(shi)驗應(ying)力測試的儀(yi)(yi)器，簡稱光(guang)彈(dan)儀(yi)(yi)。應(ying)用(yong)它可以測試 SiC晶圓、手機膜(mo)、顯示屏、石英玻璃等器件內部的(de)應力雙折射/殘余應力，以圖像(xiang)形式直(zhi)觀觀察被測件的(de)應力分布和應力集中情況。

立式光彈測試儀主要技術參數：

1.       測試(shi)面積（即光(guang)源尺寸）

標(biao)準尺寸(cun)為300 mm×300mm，其它尺寸可以定制，最大600mm×500mm；

2.       相機參數(shu)

2248*2048原始分辨率，輸出4幅1224*1024的偏振圖(tu)像。幀(zhen)率36或79。

3.       應力雙折射量程

基本(ben)型(xing): 量(liang)程為工作波長的1/4（以紅(hong)光(guang)為例，量(liang)程(cheng)即157.5nm）；

增強型：2296nm。需要采用藍、綠兩種顏色的(de)光源進(jin)(jin)行測試，并進(jin)(jin)行相位(wei)解包裹(guo)處理(li)；

? 3.  測試(shi)分(fen)辨(bian)率(lv)與(yu)精(jing)度

以 0.8mm 厚的鈣(gai)鈉玻璃為(wei)例：應力測試的分辨率(lv)為(wei) 0.2MPa：應力測試(shi)的精度：1.0MPa。

應力雙折射(she)的測試分辨率：0.1nm, 精度：1.0nm；

產品特(te)色：

與(yu)傳(chuan)統(tong)/常規的光彈儀相比，本立式光彈測試儀具有如下特點：

1.     結(jie)構(gou)簡單

主要部(bu)件包括：偏振光源、傾斜平臺（用(yong)于(yu)晶體試(shi)件測試(shi)）、濾光片轉輪、像(xiang)素偏振相機、高配(pei)筆(bi)記本(ben)電腦（內(nei)存 16G 以上）及處理(li)軟件(jian)，不含任(ren)何可旋(xuan)轉的光學偏振器件(jian)。

2.     操作簡單，可(ke)以(yi)實現快速甚(shen)至實時測試

只需(xu)一(yi)次拍照即可(ke)同時獲取試件(jian)(jian)的(de)相(xiang)位(wei)差場和主(zhu)應力方向場，避免(mian)了傳統方法在定量(liang)測試時的(de)復雜操(cao)作，且在平面應力的(de)條件(jian)(jian)下可(ke)以分離出各應力分量(liang)；

3.     靈(ling)敏度高且不受環境光的干擾

測試靈(ling)敏度是傳統光彈法/設備(bei)的(de)(de)兩倍（物理靈(ling)敏(min)度(du)(du)），且無論相(xiang)位差多小，都可(ke)以用最大的(de)(de)灰度(du)(du)梯度(du)(du)圖(tu)像(xiang)表示（顯示靈(ling)敏(min)度(du)(du)高）；由于采用不(bu)同偏振圖(tu)像(xiang)之間(jian)的(de)(de)相(xiang)減運(yun)算，使得測(ce)試幾乎不(bu)受(shou)環境光(guang)的(de)(de)干擾。

4.     多種測試波長可選并快速切換

切換方式(shi)包括RGB 三色(se) LED 光源（中(zhong)心波長分別為：625nm、525nm 和 465nm）的切換(huan)(huan)以白光光源下不同的窄(zhai)帶濾光片的輪換(huan)(huan)。

5.     可(ke)以(yi)根據(ju)客戶要求(qiu)定制產品

在某些特殊情況(kuang)下，客戶(hu)需(xu)(xu)要用(yong)自己的(de)相機和光源，我們(men)可以根據需(xu)(xu)要對(dui)產品進行(xing)定(ding)制，滿足客戶(hu)的(de)需(xu)(xu)要。

安賽斯光彈儀(yi)工作原理

設：圓盤試件（直(zhi)徑D, 厚(hou)度(du)d）受對徑壓縮載荷 F 的作(zuo)用，試(shi)件中心(xin)點(dian)O 的主應力分別是：

根據(ju)應力-光學定律(lv)，應(ying)力雙折射材(cai)料(liao)的主應(ying)力差(cha)與相位(wei)差(cha)（?）的關(guan)系如下：

其中C 為待(dai)求的光彈系數(shu)，λ 為測試光的(de)波(bo)長。

將（1）（2）關(guan)聯(lian)起來(lai)，有(you)：

通過光彈實驗確定圓形試件中心點的(de)位相差?，即可(ke)得到(dao)光(guang)彈系數。

實驗示(shi)意及(ji)應用范圍：

  立式光彈儀 ：利用應力雙折射性質，在(zai)工程上可以制成(cheng)各(ge)種機械(xie)零件的(de)透(tou)明塑料(liao)模型，然(ran)后(hou)模擬零件的(de)受力情況，觀察、分析偏振(zhen)光干涉的(de)色彩和條紋分布，從而判斷零件內部的(de)應力分布。

應力雙折(zhe)射信息

圓盤徑向受壓實驗：

U型(xing)塊(kuai)壓彎組合實(shi)驗：

光(guang)彈性方法直觀,能直接顯示應力集(ji)中區域，并準確給出(chu)應力集(ji)中部分(fen)的量值；它不但可以得到便捷應力而(er)且(qie)能夠(gou)求(qiu)的結(jie)構的內部應力。特別是這一(yi)方法不受(shou)形狀和載荷的限制，可以對工(gong)程復雜結(jie)構進行應力分(fen)析。

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