產(chan)品(pin)介紹:

名稱(cheng)：德國超聲波掃描顯微鏡

型(xing)號(hao)：V-1000E

產地：德國

應用：晶(jing)圓(yuan)(yuan)面(mian)處分層(ceng)缺陷；錫(xi)球(qiu)、晶(jing)圓(yuan)(yuan)、或(huo)填膠(jiao)中(zhong)的(de)開(kai)裂(lie)；晶(jing)圓(yuan)(yuan)的(de)傾斜；各(ge)種可能之(zhi)孔洞（晶(jing)圓(yuan)(yuan)接合(he)面(mian)、錫(xi)球(qiu)、填膠(jiao)…等(deng)）

應 用:

超聲波(bo)掃描(miao)顯微鏡的應用領域：

• 半導體電(dian)子行業：半(ban)導體晶(jing)圓(yuan)片、封裝(zhuang)器件(jian)、大功率器件(jian)IGBT、紅(hong)外器(qi)件、光電傳感器(qi)件、SMT貼(tie)片器件(jian)、MEMS等(deng);
• 材料行業(ye)：復合材料(liao)、鍍(du)膜、電鍍(du)、注塑、合金、超導材料(liao)、陶(tao)瓷、金屬焊接、摩擦界(jie)面等；
• 生(sheng)物醫學：活體細(xi)胞動態研(yan)究、骨骼、血管的研(yan)究等

超聲(sheng)波掃(sao)描顯微鏡在失效分析(xi)中的應用：

• 晶(jing)圓面處分(fen)層缺陷
• 錫球、晶(jing)圓、或填膠中(zhong)的開裂
• 晶圓(yuan)的傾(qing)斜
• 各種(zhong)可能之孔洞（晶圓(yuan)接(jie)合面(mian)、錫(xi)球、填膠…等）

超聲波顯微鏡的在失效(xiao)分析中(zhong)的優勢：

• 非破壞性、無(wu)損(sun)檢(jian)測材料或IC芯片內(nei)部結構
• 可分層掃(sao)描、多層掃(sao)描
• 實施、直觀的(de)圖(tu)像及(ji)分析
• 缺(que)陷的測量(liang)及缺(que)陷面積和數(shu)量(liang)統(tong)計(ji)
• 可(ke)顯示材料內部的三維圖像
• 對人(ren)體是沒有傷(shang)害(hai)的
• 可檢測各種缺陷（裂紋、分(fen)層(ceng)、夾雜物(wu)、附著(zhu)物(wu)、空洞、孔洞等）

主要參(can)數：

• -該型號(hao)超聲波(bo)掃(sao)描(miao)顯微(wei)鏡分析系(xi)統，用于研(yan)發和生(sheng)產部門檢測(ce)特大件樣品(pin)
• - 大(da)掃描速(su)度：2000 mm/s
• - 與其它(ta)品牌相(xiang)比掃(sao)描效率高30%
• - 大掃(sao)描(miao)范(fan)圍：1000mm×700mm
• - 小掃(sao)描范(fan)圍：200μm×200μm
• - 帶寬：550MHz
• - 大放大倍(bei)數：250倍(bei)
• - 新型換能器

名(ming)稱：德國超聲波掃描顯微鏡

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