產(chan)品介紹:

名稱：德國超聲波掃描顯微鏡

型號：V-700E

產地：德國(guo)

應用：晶(jing)圓(yuan)(yuan)面(mian)處分層缺陷；錫球(qiu)、晶(jing)圓(yuan)(yuan)、或填(tian)膠(jiao)中的開裂；晶(jing)圓(yuan)(yuan)的傾斜(xie)；各種可(ke)能之孔洞（晶(jing)圓(yuan)(yuan)接合(he)面(mian)、錫球(qiu)、填(tian)膠(jiao)…等）

應 用:

超聲(sheng)波(bo)掃描顯微鏡的應用領域：

• 半導體電子行業：半導體(ti)晶圓(yuan)片(pian)、封裝器(qi)件(jian)、大功率器(qi)件(jian)IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器(qi)件、MEMS等(deng);
• 材料行(xing)業(ye)：復合(he)材料(liao)、鍍(du)膜、電鍍(du)、注(zhu)塑、合(he)金、超導(dao)材料(liao)、陶瓷、金屬(shu)焊接、摩擦界面等(deng)；
• 生物醫學：活體細胞(bao)動態研究(jiu)、骨骼、血管的研究(jiu)等

超聲(sheng)波掃描(miao)顯微(wei)鏡(jing)在失效(xiao)分析中的(de)應用：

• 晶圓面處分層缺陷(xian)
• 錫(xi)球、晶圓、或填膠中的開裂
• 晶圓的傾斜
• 各種(zhong)可能之(zhi)孔洞（晶圓接合面、錫(xi)球、填(tian)膠…等）

超聲波顯微鏡的在(zai)失效分析中的優勢：

• 非破壞性、無損檢測材料或IC芯(xin)片內部結構(gou)
• 可分層掃描(miao)、多(duo)層掃描(miao)
• 實(shi)施(shi)、直觀的圖像及(ji)分析(xi)
• 缺陷的測量及缺陷面積和(he)數量統(tong)計
• 可顯示材料內部的(de)三維圖像
• 對人體是沒(mei)有傷害的
• 可(ke)檢測各(ge)種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附(fu)著物、空洞、孔(kong)洞等）

主(zhu)要參數:

• - 該(gai)型號超聲波掃(sao)描顯微鏡分(fen)析(xi)系統，用(yong)于(yu)檢測(ce)大(da)件樣品
• - 大掃(sao)描速度：2000 mm/s
• - 與其它品牌(pai)相比掃描效(xiao)率高30%
• - 大掃(sao)描范圍：700mm×600mm
• - 小掃描范圍(wei)：200μm×200μm
• - 帶寬(kuan)：550MHz
• - 大放大倍(bei)數：625倍
• - 新型FCT換能(neng)器

名稱(cheng)：德國超聲波掃描顯微鏡

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