安(an)賽斯(si)光彈(dan)系數測試儀(ANA6000P-H)是應(ying)用偏(pian)振光干涉原理對應(ying)力(li)作(zuo)用下能產生人(ren)工雙折射材(cai)料做成的(de)力(li)學構件模型(xing)進(jin)行(xing)實驗(yan)應(ying)力(li)測(ce)試的(de)儀器，簡(jian)稱光彈儀。應(ying)用它(ta)可以通過模型(xing)在(zai)實驗(yan)室內進(jin)行(xing)大型(xing)建筑構件、水壩壩體、重型(xing)機械部(bu)件的(de)應(ying)力(li)和應(ying)力(li)分布的(de)測(ce)試，并(bing)可以在(zai)模型(xing)上(shang)直接看(kan)到被(bei)測(ce)件的(de)全部(bu)應(ying)力(li)分布和應(ying)力(li)集中情況(kuang)。

主(zhu)要技術參數：

l  測(ce)試面積（即光源尺寸）：j70- j180mm；

l  應力雙折(zhe)射量(liang)程：

n  基本(ben)型(xing): 1/4波(bo)長（以紅光為例：157.5nm）；

n  增強型(xing)：2296nm (通過藍(lan)綠光雙波長(chang)法測(ce)試和(he)解包(bao)裹(guo)處理)；

l  測(ce)試分辨(bian)率與精度：

n  應力雙折射(she)測試分辨率：0.05nm, 精(jing)度：0.5nm；

n  光彈系數測(ce)試分辨率：0.1 nm/cm/MPa,， 精(jing)度：0.2 nm/cm/MPa。

產品特色：

本產(chan)品與立式光彈儀具有(you)相(xiang)同(tong)工作原理，但為了提高測試精度，采取了以下措施：

（1）    采(cai)用了高(gao)質量的(de)偏振光學器件，以(yi)保證光的(de)偏振特性(xing)和(he)質量；

（2）    采用了(le)單色性更好的光(guang)源，如鈉光(guang)燈(deng)和(he)激(ji)光(guang)；

（3）    強化(hua)了光(guang)束的(de)(de)準直性(xing)（平行性(xing)）傳播(bo)，以減少光(guang)在傳播(bo)過程與理想偏振狀(zhuang)態的(de)(de)偏離；

（4）    采用(yong)了遠心成像透鏡，以提高成像質量。

（5）    以增(zeng)量法進行光彈系數計(ji)算；

（6）    數據處(chu)理全自動化，并自動生產(chan)測試報告。

光彈儀工(gong)作(zuo)原(yuan)理

設：圓盤試件（直徑D, 厚度d）受對(dui)徑(jing)壓縮載荷 F 的作(zuo)用(yong)，試(shi)件中心點O 的主應力分(fen)別是：

          （1）

根據應力-光學定律，應力雙折射(she)材(cai)料的(de)主(zhu)應力差與相位差（?）的關系如(ru)下：

              （2）

其中(zhong)C 為(wei)待求的光彈系數，λ 為測(ce)試光的波長。

將(jiang)（1）（2）關聯起(qi)來(lai)，有：

           ;       （3）

通過光彈實驗(yan)確(que)定圓形試(shi)件中心點的位相差?，即(ji)可得(de)到光彈系數。

光(guang)彈儀光(guang)路原理圖

實(shi)驗示意(yi)及應用范圍：

    利用應(ying)力(li)雙折射性質(zhi)，在工程上可(ke)以制成(cheng)各種機械零件的(de)(de)透明塑(su)料模型(xing)，然后模擬(ni)零件的(de)(de)受(shou)力(li)情況，觀察(cha)、分析偏振光干涉的(de)(de)色彩和(he)條紋(wen)分布，從而判斷零件內部的(de)(de)應(ying)力(li)分布。

對徑壓(ya)縮圓盤的相位差(cha)場分布

應力雙折射信息

圓盤(pan)徑向受(shou)壓(ya)實驗：

U型塊壓(ya)彎組合實驗(yan)：

光彈(dan)性方法直觀,能直接顯示(shi)應力(li)集中區(qu)域，并準確(que)給(gei)出應力(li)集中部分(fen)的(de)量值；它(ta)不但可以得到(dao)便(bian)捷應力(li)而且能夠求的(de)結構(gou)的(de)內部應力(li)。特別是(shi)這一方法不受(shou)形狀和(he)載荷的(de)限制(zhi)，可以對工程復雜結構(gou)進行應力(li)分(fen)析。